攀枝花BeNano Zeta Zate電位分析儀

所屬分類：攀枝花納米粒度及Zeta電位分析儀
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發(fā)布時間：2022-04-13 14:23:25

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產(chǎn)品概述

產(chǎn)品介紹

BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移，進而得到體系的 Zeta 電位信息。

BeNano-Zeta-電位分析儀.jpg

基本性能指標

Zata電位測試

原理	相位分析光散射技術(shù)
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	> ±20 μ.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0-260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 110 μm
樣品量	0.75 mL – 1.0 mL

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍

-15℃-110℃，精度±0.1℃

冷凝控制

干燥空氣或者氮氣

標準激光光源

50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

相關(guān)器

最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍

檢測器

APD （高性能雪崩光電二極管）

光強控制

0.0001% - 100%，手動或者自動

軟件

中文和英文

符合21CFR Part 11

檢測參數(shù)

●Zeta 電位

●Zeta 電位分布

檢測技術(shù)

●電泳光散射

●相位分析光散射

選配件

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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