長春BeNano 180 Pro 納米粒度分析儀

所屬分類：長春納米粒度及Zeta電位分析儀
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發(fā)布時間：2022-04-13 14:06:53

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產品概述

產品介紹

BeNano 180 Pro 納米粒度分析儀是 BeNano 180 + BeNano 90 二合一的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 173°和經典的 90°動態(tài)光散射 DLS 和靜態(tài)光散射技術 SLS，可以準確的檢測各種濃度樣品的粒徑及粒徑分布，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。雙角度結合測量兼顧高低濃度樣品，還具有檢測極微量樣品的能力，為用戶提供功能最全面的粒度分析能力。

BeNano-180-Pro-納米粒度分析儀.jpg

基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態(tài)光散射技術
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測角	173 °+90
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍	0.2-1.3x10⁷ rad/s
測試能力	均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

粘度和折光率測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統(tǒng)參數

溫控范圍	-15°C - 110°C ，精度±0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動