兩年一屆的全國顆粒測試學術會議，是由中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會主辦的顆粒測試領域的高水平的學術交流會。在本次天津會議上，來自國內外顆粒測試專家學者就顆粒測試技術的新研究成果做了報告。百特產品總監(jiān)寧輝博士做了“背向動態(tài)光散射技術檢測高濃度納米樣品”的報告。他詳細講述了動態(tài)光散射和電泳光散射測試納米粒度和Zeta電位的原理，講述了高濃度納米樣品測試的背向動態(tài)光散射技術和采用此項技術的BeNano系列的儀器。寧博士用淺顯生動的語言講述高深的納米測試的新技術問題，受到與會專家和代表的高度評價。

中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會副主任、本次大會學術委員會副主席董青云全程出席了大會、專委會擴大會、專題報告會等多場活動并主持了特邀報告會。會議期間，董總與全國顆粒測試界的新老朋友共話情誼，探討了合作推進顆粒測試技術向更高水平邁進的途徑。

本次學術交流會還設立了展覽區(qū)，展出了近兩年來國內外顆粒測試的新技術成果。丹東百特展出的BeNano 180 Zeta Pro納米粒度與Zeta電位儀，將90°和173°角納米粒度測試、ELS（電泳法）和PALS（相位分析法） Zeta電位測試四種技術于一體，既能測納米粒度又能側Zeta電位，既適用于低濃度又適用于高濃度，既能測常規(guī)量樣品，又能測微量樣品，既能配固體激光器又能配氣體激光器，并且它還能測試高分子及蛋白體系的分子量，是一種配置完整、功能強大、具有國際水平的納米分析儀器。

為期兩天的第十三屆全國顆粒測試學術會議圓滿結束了，它將是攀登顆粒測試技術高峰征途上的加油站，為中國顆粒測試技術趕超世界先進水平助力前行。